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西门子edi模块硅去除率是多少?

西门子edi模块硅去除率是多少?

发布者:超级管理员 2025-12-08 15:03:11 | 12

西门子 EDI 模块(以主流 IONPURE LX 系列为代表,含 IP-LXM45Z、IP-LXM10X 等型号)的硅(以 SiO₂计)去除率为 90%-99%,主要取决于进水条件。在满足进水水质要求的前提下,若进水硅含量≤1.0ppm(RO 产水标准),产水硅可稳定降至 0.01-0.1ppm 以下;针对半导体、制药等高端场景的专用型号(如 IP-LXM10X),硅去除率可进

西门子 EDI 模块(以主流 IONPURE LX 系列为代表,含 IP-LXM45Z、IP-LXM10X 等型号)的硅(以 SiO₂计)去除率为 90%-99%,主要取决于进水条件。在满足进水水质要求的前提下,若进水硅含量≤1.0ppm(RO 产水标准),产水硅可稳定降至 0.01-0.1ppm 以下;针对半导体、制药等高端场景的专用型号(如 IP-LXM10X),硅去除率可进一步提升至 95% 以上,产水硅含量控制在 0.05ppm 以内,完全满足工业超纯水制备需求。

 西门子edi模块.jpg

一、硅去除率的技术原理:为何西门子 EDI 能实现高效脱硅?

西门子 EDI 模块采用连续电去离子(CEDI)技术,其硅去除能力源于离子交换树脂、离子交换膜与电场的协同作用,核心机制如下:

1.离子化转化与吸附:水中的硅主要以活性硅(硅酸)形式存在,在 EDI 模块的电场环境中,硅酸发生电离生成 SiO₃²⁻等带电离子,被填充在浓水室的离子交换树脂吸附捕获;

电场迁移与截留:通过施加直流电场(电压 0-400V,电流 1-6A),带电硅离子在电场力作用下向对应电极迁移,被离子交换膜(阳离子膜、阴离子膜)选择性截留于浓水室,最终随浓水排出;

2.专利结构强化脱除:LX 系列模块采用 “全填充” 浓水室设计,无死角的树脂填充结构扩大了离子吸附面积,配合厚隔板与双 O 型圈密封,避免水流短路导致的硅泄漏,进一步提升去除效率。


需特别说明:硅的化学性质特殊,中性 pH 条件下(7.0 左右)几乎不带电,难以被常规工艺去除。西门子 EDI 通过优化电场强度与树脂配比,即使在 pH 4-11 的宽范围进水条件下,仍能高效转化并截留硅离子,解决了传统工艺的脱硅难题。

 

二、常见误区与优化建议

误区 1:认为 EDI 模块可直接处理高硅原水 —— 正确做法:必须经 RO 预处理将硅降至 1.0ppm 以下,必要时在 RO 系统前增设软化或除硅预处理单元;

误区 2:追求过高回收率而牺牲脱硅效果 —— 优化方案:根据进水硅含量调整回收率,高硅进水(0.8-1.0ppm)时,回收率控制在 90% 为宜;

误区 3:忽视清洗导致硅去除率持续下降 —— 解决措施:当产水硅含量上升 10% 或电阻率低于 10MΩ・cm 时,及时用专用清洗剂(如碱性清洗剂)清洗模块。

 

所以,西门子 EDI 模块的 90%-99% 硅去除率,是其专利技术、结构设计与工艺适配性的综合体现,核心依赖 “优质进水 + 精准运行 + 规范维护” 的三重保障。在工业超纯水制备中,无论是半导体、电力还是制药行业,只要严格遵循技术要求,即可实现稳定高效的脱硅效果,为生产工艺提供高纯度水质保障。

 

 

 

 

 

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